薄膜電弱點(diǎn)測試儀的主要特點(diǎn)

主要特點(diǎn) ：

1、能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測試，測試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對(duì)測試結(jié)果的影響。

2、測試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。

3、主要原器件均選用品牌（如歐姆龍，美信，ABB等），有效的保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。

4、測量。復(fù)現(xiàn)性好。

5、測試過程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。

6、擊穿電流在0~40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。

7、多重保護(hù)功能，充分考慮了操作人員及設(shè)備的安全性。

8、過壓，過流，接地保護(hù)，試驗(yàn)平臺(tái)門開啟保護(hù)。

華測HCRD-300型電弱點(diǎn)測試儀，主要應(yīng)用于新能源汽車用鋰離子電池隔膜電氣絕緣性能缺陷檢測。采用計(jì)算機(jī)控制，通過人機(jī)對(duì)話方式，根據(jù)1EC 60674-2:2009 電氣用塑料薄膜第2部分:試驗(yàn)方法及其第1次修正和GB/T13542-2009 《電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》而設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置。主要用于鋰離子電池隔膜、電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測試。

華測其他相關(guān)產(chǎn)品

可按用戶要求訂制非標(biāo)產(chǎn)品

華測儀器--致力于材料電學(xué)測試技術(shù)