簡介:
高溫低電阻測試儀器采用四端測量方法在高溫環(huán)境下對導電及半導電材料的電阻進行評估,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。
優(yōu)勢
1、整體為桌面型設(shè)計,采用紅外燈加熱,無保溫爐膛結(jié)構(gòu),滿足實驗室無灰塵排放的要求。
2、內(nèi)置工控機、觸摸屏,可以利用工控機設(shè)定加熱曲線,并實現(xiàn)和其他測試設(shè)備的集成控制。
3、定點控溫模式下,可以將樣品 1 0s內(nèi)加熱到 1000攝氏度。
4、控溫加熱下,可以5度/s 速率下線性加熱到1000 攝氏度。
5、在1000度下可以連續(xù)工作時間不低于1 小時。
6、采用鉑銠熱電偶直接測定樣品附近溫度。
7、樣品可以工作在大氣、真空、氣氛環(huán)境下加熱。
8、配備真空泵,水冷設(shè)備,配備超溫、缺水、過流等報警保護裝置。
9、溫度均勻區(qū):60 m m *1 0 0m m。
特點:
1、高速加熱與冷卻方式
高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時爐體可配置水冷系統(tǒng),增設(shè)氣體冷卻裝置,可實現(xiàn)快速冷卻。
2、溫度高精度控制
過紅外鍍金聚焦爐和溫度控制器的組合使用,可以精確控制樣品的溫度(遠比普通加溫方式)。此外,冷卻速度和保持在任何溫度下可提供高精度。
3、不同環(huán)境下的加熱與冷卻
加熱/冷卻可用真空、氣氛環(huán)境、低溫(高純度惰性氣體,靜態(tài)或流動),操作簡單,使用石英玻璃制成。紅外線 可傳送到加熱/冷卻室。