為了提高
鐵電材料測試系統(tǒng)的集成度、重復性和極化安全性,介紹自行開發(fā)的多功能鐵電材料測試系統(tǒng)的硬件結(jié)構(gòu)與設(shè)計原則和思路,主要包括極化裝置的設(shè)計與加工、積分放大電路的設(shè)計、硬件之間的連接、分析軟件的編寫、軟硬件之間的通訊等。實現(xiàn)在不同溫度點下,封閉式安全極化及電滯回線的數(shù)據(jù)采集與處理。*中檔產(chǎn)品的空白,造價是設(shè)備的1/3,但精度相當。
主要特點
1.超晶格材料在方波脈沖電壓激勵下的自漏電特性
2.測量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時的電流響應(yīng)
3.鐵電材料的電滯回線(動態(tài)與靜態(tài))、漏電流、壓電等特性
4.在操作條件下記錄單元對電容測試芯片直接存取的仿真
5.測量小信號材料的壓電系數(shù)與介電常數(shù)
6.可與原子力顯微鏡聯(lián)用,對微區(qū)或Nanoscale的鐵電、壓電性能進行測試 儀器介紹 德國aixACCT公司生產(chǎn)的TF Analyzer 2000鐵電分析儀是世界上的電子材料電特性參數(shù)測量儀器。該儀器為*模塊化設(shè)計,不同的模塊對應(yīng)不同的電特性測量方式,如:DRAM模塊可研究超晶格材料在方波脈沖電壓激勵下的自漏電特性; RELAXATION模塊可測量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時的電流響應(yīng); FERROELECTRIC HYSTERESIS模塊測試鐵電材料的電滯回線(動態(tài)與靜態(tài))、漏電流、壓電等特性; PULSE SWITCHING模塊提供在操作條件下記錄單元對電容測試芯片直接存取的仿真。