歡迎訪問北京華測試驗儀器有限公司網(wǎng)站

返回首頁|聯(lián)系我們

全國統(tǒng)一服務(wù)熱線:

13911821020
產(chǎn)品中心您當(dāng)前的位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > > 半導(dǎo)體封裝材料測試系統(tǒng) > HC-TSC2000半導(dǎo)體封裝材料熱刺激電流測試儀/TSDC
基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱:

半導(dǎo)體封裝材料熱刺激電流測試儀/TSDC

產(chǎn)品型號:HC-TSC2000

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

所在地:北京市

更新日期:2024-09-27

產(chǎn)品簡介:

半導(dǎo)體封裝材料熱刺激電流測試儀/TSDC,廣泛應(yīng)用于電力、絕緣、生物分子等領(lǐng)域,用于研究材料性能的一些關(guān)鍵因素,諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等,通過TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時間、活化能等相關(guān)的介電特性。TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時間、活化能等相關(guān)的介電特性。

產(chǎn)品特性Product characteristics
品牌華測



半導(dǎo)體封裝材料熱刺激電流測試儀/TSDC

TSDC熱刺激電流測試儀





HC-TSC2000華測儀器熱刺激電流測試儀,其具有測試功能,設(shè)備支持測試電壓10kV,采用冷臺的方式進行加溫與制冷,測量引用使用低噪聲線纜,減少測試導(dǎo)線的影響,同時電極加熱采用直流電極加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對測量儀表的干擾。測試功能上也增加了高阻測試、擊穿測試、也方便擴展介電譜等測量功能。它能夠在不同測量條件和測量模式下進行連續(xù)和高速的測量!





華測儀器熱刺激電流測試儀特點:


支持的硬件:

外置6517B或其它高壓直流電源

外置的高壓放大器(+/-100V到+/-10 kV)塊體陶瓷樣品夾具

溫度控制器和溫度腔



測試功能:

熱釋電測試

漏電流測試

用戶定義激勵波形


半導(dǎo)體封裝材料熱刺激電流測試儀/TSDC



提升了熱刺激電流測試儀量精度

HC-TSC2000熱刺激電流測試儀由華測儀器多位工程師多年開發(fā),其具有不錯的測試功能,設(shè)備可支持測試電壓10kV,采用冷臺的方式進行加溫與制冷,測量引用使用低噪聲線纜,減少測試導(dǎo)線的影響,同時電極加熱采用直流電極加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對測量儀表的干擾。同時測試功能上也增加了高阻測試、擊穿測試、也方便擴展介電溫譜等測量功能。它能夠在不同測量條件和測量模式下進行連續(xù)和高速的測量!



當(dāng)您在選擇高低環(huán)境下進行TSDC測量,您要重點考慮如下的問題?

在受熱過程中建立極化態(tài)或解除極化態(tài)時所產(chǎn)生的短路電流。基本方法是將試樣夾在兩電極之間,加熱到一定溫度使樣品中的載流子激發(fā),然后施加一個直流的極化電壓,經(jīng)過一段時間使樣品充分極化,以便載流子向電極漂移或偶極子充分取向,隨后降溫到低溫,使各類極化“凍結(jié)",然后以等速率升溫,同時記錄試樣經(jīng)檢流計短路的去極化電流隨溫度的變化關(guān)系,即得到TSDC譜“凍結(jié)",然后以等速率升溫,同時記錄試樣經(jīng)檢流計短路的去極化電流隨溫度的變化關(guān)系,即得到TSDC譜TSDC/TSC-3000  型熱激勵去極化電流測量系統(tǒng)應(yīng)用:
 廣泛應(yīng)用于電力、絕緣、生物分子等領(lǐng)域,用于研究材料性能的一些關(guān)鍵因素,諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等,通過TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時間、活化能等相關(guān)的介電特性。TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時間、活化能等相關(guān)的介電特性。


設(shè)備測量參數(shù)

溫度范圍: -185~600°C
控溫精度:±0.25°C
升溫斜率:10°C/min(可設(shè)定)
測試頻率 : 電壓max:10Kv
加熱方式:直流電極加熱
冷卻方式:水冷
輸入電壓:AC 220V

樣品尺寸:φ<25mm,d<4mm
電極材料:黃銅或銀
夾具輔助材料:99氧化鋁陶瓷
低溫制冷:液氮
測試功能:TSDC

數(shù)據(jù)傳輸:RS-232

設(shè)備尺寸:180mmx210mmx50mm


熱激勵去極化、熱激勵極化、等溫極化時域、等溫電導(dǎo)率時域、等溫弛豫譜等多種測量參數(shù):樣品電流、電流密度、電荷變化、介電常數(shù)變化等(增強型)。



可擴展部件

高阻計(可進行高低溫下高阻測量)

數(shù)字源表(可進行高低溫下四探針測量)

高壓電源(可進行高低溫下TSDC測量)


半導(dǎo)體封裝材料熱刺激電流測試儀/TSDC

半導(dǎo)體封裝材料熱刺激電流測試儀/TSDC









 

留言框

  • 產(chǎn)品:

  • 您的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯(lián)系電話:

  • 常用郵箱:

  • 省份:

  • 詳細(xì)地址:

  • 補充說明:

  • 驗證碼:

    請輸入計算結(jié)果(填寫阿拉伯?dāng)?shù)字),如:三加四=7

上一篇:TSC熱刺激電流測試儀-熱激發(fā)電流分析儀器

下一篇:HCDJC—50KV交直流電壓擊穿試驗儀/電氣強度測試儀

在線客服 聯(lián)系方式 二維碼

服務(wù)熱線

010-86460119

掃一掃,關(guān)注我們